●会议名称:第五届中国测试学术会议
●通讯地址:苏州工业园区 国际科技园
●会议时间:2008-5-21至2008-5-23
●会议介绍:
ATPG
SOC/ASIC测试
微处理器测试
存储器测试
高速数字测试
模拟和混合信号测试
RF测试
At-speed测试
时延测试
IDDQ和电流测试
缺陷测试
设计验证
模拟技术
测试综合
可测试性设计
可调试性设计
可靠性设计和测试
可制造性设计和测试
软件测试
软件可靠性
网络测试
软件测试平台
故障诊断
容错技术
信息安全
硅片验证和特性测试
硅片调试和诊断
良品率分析测试
系统级测试和诊断
ATE硬件和软件
生产测试自动化
测试经济学
●联系方式:
电话:(0512) 62889083
E-mail:lshen@ict.ac.cn lshen@ict.ac.cn (0512) 62889012
网站:http://ctc08.szicc.com.cn/index.asp |