[ 会议基本信息 ]
会议名称(中文)：  第16届半导体缺陷识别、成像与物理国际学术会议
会议名称(英文)：  16th International Conference on Defects-Recognition,Imaging and Physics in Semiconductors
所属学科：  电子工程,半导体技术
开始日期：  2015-09-06
结束日期：  2015-09-10
所在国家：  中华人民共和国
所在城市：  江苏省     苏州市
主办单位：  中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
协办单位：  浙江大学硅材料国家重点实验室和厦门大学物理学院 

[ 会务组联系方式 ]
联系电话：  0512-62872807
E-MAIL：  drip16@163.com
会议网站：  http://www.cas.cn/xs/201501/t20150116_4300838.shtml

会议背景介绍： 
　第16届半导体缺陷识别、成像与物理国际学术会议（英文名称： 16th International Conference on Defects-Recognition,Imaging and Physics in Semiconductors。简称：DRIP XVI ）将于2015年9月6日至9月10日在江苏省苏州市举行,会议由中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所主办，浙江大学硅材料国家重点实验室和厦门大学物理学院等单位协办。该会议于1985年在法国蒙彼利埃创办，每两年举行一次，已经在国际半导体研究领域形成广泛的影响。此次会议在华举办，将对于促进我国与国际半导体材料学术界交流、扩大纳米所在国际半导体材料研究领域的影响具有非常重要的意义，欢迎广大学者老师持续关注，踊跃参加。