2009年9月23日-26日武汉·2009国际电子测量技术学术研讨会
发布人:dengyp 更新时间:2009/8/20 17:20:22 点击数:996● 会议名称(中文): 2009国际电子测量技术学术研讨会
● 会议名称(英文): International Seminar on EMT Technology (2009)
● 所属学科: 电子、通信与自动控制技术
● 会议类型: 国内会议
● 会议论文集是否检索: 不详
● 开始日期: 2009-9-23
● 结束日期: 2009-9-26
● 所在国家: 中华人民共和国
● 所在城市: 湖北省 武汉市
● 具体地点: 武汉科技会展中心
● 主办单位: 中国电子学会电子测量与仪器分会|中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会|湖北省电磁兼容学会|湖北省仪器仪表学会|湖北省计算机用户协会|湖北省电子学会
● 承办单位: 雅式展览服务有限公司
● 重要日期
摘要截稿日期: 2009-8-10
全文截稿日期: 2009-8-31
论文录用通知日期 2009-9-10
交修订版截止日期: 2009-9-15
● 会务组联系方式
联系人: 胡楠
联系电话: 027-82775576
传真: 027-82775576
E-mail: whadsale@163.com
通讯地址: 武汉市南京路12号省轻工一层
邮政编码: 430014
● 会议网站: http://www.cief2009.cn
● 会议背景介绍:
为了适应电子信息技术发展和国防建设的需要,促进电子测量科技水平的提升,由中国电子学会电子测量与仪器分会、中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会、湖北省电磁兼容学会、雅式展览服务有限公司联合举办的“国际电子测量技术学术研讨会”将于2009年9月在武汉举行。届时,将邀请两院院士、专家学者及企业高级代表做主题报告,围绕电子测量领域的最新技术产品、市场和发展全方位的阐述与分析。组委会热忱邀请国内外相关领域的同行和专家参加本届研讨会。现将有关事宜通知如下:
征文范围及要求:
● 征文范围
基础理论研究及前沿技术
现代测试及计量技术
总线技术与自动测试系统
精密仪器与校准
电磁兼容测量
仿真与工业控制系统
信号与图像处理
过程控制与检测技术
虚拟仪器与测试软件
通信系统测试
遥感、遥控、遥测技术
纳米测量技术
计算机网络测试与控制系统
环境监测与分析技术
故障诊断与故障检测
声频与振动测试
模块、仪器及系统的设计与应用
医用电子设备
仪器仪表应用及自动控制系统
现代电源设计、测试管理与应用
光、机、电一体化测试技术及其应用
生物工程检测技术
论文接收及录用程序
1、征稿截止日期为2009年8月30日。
2、作者可直接提交全文,论文随到随审。一经录用即发录用通知。
3、会议论文集及其光盘版将于2009年会议召开时出版发行。
4、作者投稿方法:电子邮件
作者须知
1. 作者必须参照www.emijournal.com网站上公布的学报征稿要求,提供原创的未经公开发表的论文。论文请用MS Word格式,传至whadsale@163.com。严禁一稿多投。
2. 来稿应为作者自己的研究成果,内容充实,富于创新,有较高的学术水平和实际参考价值。受资助的论文务必请注明项目名称和编号。内容近似的论题务必请合并处理,切忌一题多稿,以免影响收录。每人限两篇,每篇作者不超过4人。
3. 来稿一经录用,论文题目、作者姓名、单位等信息不得随意变更。作者投稿时务必将详细、可靠的联系方法和通信地址附在论文的后面,以便随时沟通信息。
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