2010中国仪器仪表与测控技术大会 

 

  

[ 会议基本信息 ] 

会议名称（中文）： 2010中国仪器仪表与测控技术大会 

会议名称（英文）： Conference on Instrumentation，Measurment a nd Control Technology of China 

所属学科： 电子、通信与自动控制技术　 计算机科学技术　 航空航天科学技术　 工程与技术科学基础学科　  

 

会议类型： 国际会议  

会议论文集是否检索： ISTP EI  

开始日期： 2010-11-29 

结束日期： 2010-12-3

所在国家： 中华人民共和国  

所在城市： 广东省   深圳市  

具体地点：  

主办单位： 中国仪器仪表学会 

协办单位： 仪器仪表学报 深圳先进技术集成研究院 深圳仪器仪表学会 

承办单位： 中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会 深圳大学 重庆大学 

议题：  

[ 组织结构 ] 

会议主席：  

组织委员会主席：  

程序委员会主席：  

会议嘉宾： 

 

[ 重要日期 ] 

摘要截稿日期：  

全文截稿日期： 2010-10-15 

论文录用通知日期

  

交修订版截止日期：  

[ 会务组联系方式 ] 

联系人： 于秋良 

联系电话： 010-64005190 

传真：  

E-mail：  

通讯地址：  

邮政编码：  

会议新闻(共0条新闻）：  

 

会议注册费：  

会议网站：  

会议背景介绍： 由中国仪器仪表学会主办的“2010中国仪器仪表与测控技术大会”（CIMCTC‘2010）将于2010年10月在深圳举办。CIMCTC会议自2007年6月在成都创办以来，基于促进我国仪器仪表与测控技术的发展，加快该领域的新理论、新方法、新技术的应用于推广，推进本行业产、学、研合作与交流的宗旨，广泛联系国内外“仪器科学与技术”业内的专家、教授、学者和工程技术人员，搭建起了一座学术交流推动产业发展的桥梁。CIMCTC第二届会议于2008年6月在湖南湘潭，第三届于2009年7月在哈尔滨成功举办。往届会议期间，张钟华院士、高洁院士、杨士中院士、俞梦孙院士等我国仪器仪表与测控技术及相关领域的著名专家、学者出席会议并做专题报告，国内外许多家知名企业给予鼎力支持，使会议成为在本行业内具有很大影响力的交流平台。

 

征文范围及要求： 2010中国仪器仪表与测控技术大会将于2010年10月29日-11月1日在深圳举办。CIMCTC2010大会热忱欢迎广大同行踊跃投稿，会议被录用论文将发表在《仪器仪表学报》增刊上，大会技术程序委员会还将组织专家从入选论文中推荐高质量论文送EI收录（中文）。同时应作者要求，本次会议接受英文稿件，录用的英文稿件论文集将有世界图书出版公司出版、发行并由ISTP收录。

征文范围：

测控基础理论研究与前沿技术

智能传感、无线传感网络与计量技术

电磁兼容、光电子工程与通信

信号采集、分析与处理

光机电一体化测试技术及其应用

自动化与先进集成技术

复杂系统故障诊断、预测和健康管理

工程结构环境等安全检测与监控

计算机测量技术

医用电子仪器及应用系统

控制理论与自动化综合技术

嵌入式技术与网络化控制

投稿须知

1、投稿指南

1）作者必须按照《仪器仪表学报》征稿要求，提供原创的未经公开发表的论文；

2） 英文稿件须提交版权协议，以便ISTP收录；英文稿件须按照网站公布模板撰写；

3）论文请用MS Word格式，严禁一稿两投。

2、重要信息

1）来稿一经录用，论文题目、作者姓名、单位等信息不得随意变更；

2）作者投稿时务必将详细联系电话、通信地址等信息（见下表）附在论文后面；

联系人姓名 手机 电话/传真 职称/职务 稿件编号（有，请填写）

通讯地址  邮编 

发票抬头 E-mail：

投稿方式

1）邮箱投稿：cimctc@vip.163.com；

2）登陆中国仪器与测量网（www.etmchina.com）点击“登陆会议投稿系统”选择“中国仪器仪表与测控技术大会（CIMCTC）”投稿；