2008年5月21日-23日江苏省第五届中国测试学术会议

●会议名称:第五届中国测试学术会议

●通讯地址:苏州工业园区 国际科技园

●会议时间:2008-5-21至2008-5-23

●会议介绍:

     ATPG

     SOC/ASIC测试

     微处理器测试

     存储器测试

     高速数字测试

     模拟和混合信号测试

     RF测试

     At-speed测试

     时延测试

     IDDQ和电流测试

     缺陷测试 

     设计验证

     模拟技术

     测试综合

     可测试性设计

     可调试性设计

     可靠性设计和测试

     可制造性设计和测试

     软件测试

     软件可靠性

     网络测试

     软件测试平台

     故障诊断

     容错技术

     信息安全

     硅片验证和特性测试

     硅片调试和诊断

     良品率分析测试

     系统级测试和诊断

     ATE硬件和软件

     生产测试自动化

     测试经济学

●联系方式:

     电话:(0512) 62889083

     E-mail:lshen@ict.ac.cn lshen@ict.ac.cn (0512) 62889012

     网站:http://ctc08.szicc.com.cn/index.asp