2010中国仪器仪表与测控技术大会
[ 会议基本信息 ]
会议名称（中文）： 2010中国仪器仪表与测控技术大会
会议名称（英文）： Conference on Instrumentation，Measurment a nd Control Technology of China
所属学科： 电子、通信与自动控制技术 计算机科学技术 航空航天科学技术 工程与技术科学基础学科
会议类型： 国际会议
会议论文集是否检索： ISTP EI
开始日期： 2010-11-29
结束日期： 2010-12-3
所在国家： 中华人民共和国
所在城市： 广东省 深圳市
具体地点：
主办单位： 中国仪器仪表学会
协办单位： 仪器仪表学报 深圳先进技术集成研究院 深圳仪器仪表学会
承办单位： 中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会 深圳大学 重庆大学
议题：
[ 组织结构 ]
会议主席：
组织委员会主席：
程序委员会主席：
会议嘉宾：
[ 重要日期 ]
摘要截稿日期：
全文截稿日期： 2010-10-15
论文录用通知日期
交修订版截止日期：
[ 会务组联系方式 ]
联系人： 于秋良
联系电话： 010-64005190
传真：
E-mail：
通讯地址：
邮政编码：
会议新闻(共0条新闻）：
会议注册费：
会议网站：
会议背景介绍： 由中国仪器仪表学会主办的“2010中国仪器仪表与测控技术大会”（CIMCTC‘2010）将于2010年10月在深圳举办。CIMCTC会议自2007年6月在成都创办以来，基于促进我国仪器仪表与测控技术的发展，加快该领域的新理论、新方法、新技术的应用于推广，推进本行业产、学、研合作与交流的宗旨，广泛联系国内外“仪器科学与技术”业内的专家、教授、学者和工程技术人员，搭建起了一座学术交流推动产业发展的桥梁。CIMCTC第二届会议于2008年6月在湖南湘潭，第三届于2009年7月在哈尔滨成功举办。往届会议期间，张钟华院士、高洁院士、杨士中院士、俞梦孙院士等我国仪器仪表与测控技术及相关领域的著名专家、学者出席会议并做专题报告，国内外许多家知名企业给予鼎力支持，使会议成为在本行业内具有很大影响力的交流平台。
征文范围及要求： 2010中国仪器仪表与测控技术大会将于2010年10月29日-11月1日在深圳举办。CIMCTC2010大会热忱欢迎广大同行踊跃投稿，会议被录用论文将发表在《仪器仪表学报》增刊上，大会技术程序委员会还将组织专家从入选论文中推荐高质量论文送EI收录（中文）。同时应作者要求，本次会议接受英文稿件，录用的英文稿件论文集将有世界图书出版公司出版、发行并由ISTP收录。
征文范围：
测控基础理论研究与前沿技术
智能传感、无线传感网络与计量技术
电磁兼容、光电子工程与通信
信号采集、分析与处理
光机电一体化测试技术及其应用
自动化与先进集成技术
复杂系统故障诊断、预测和健康管理
工程结构环境等安全检测与监控
计算机测量技术
医用电子仪器及应用系统
控制理论与自动化综合技术
嵌入式技术与网络化控制
投稿须知
1、投稿指南
1）作者必须按照《仪器仪表学报》征稿要求，提供原创的未经公开发表的论文；
2） 英文稿件须提交版权协议，以便ISTP收录；英文稿件须按照网站公布模板撰写；
3）论文请用MS Word格式，严禁一稿两投。
2、重要信息
1）来稿一经录用，论文题目、作者姓名、单位等信息不得随意变更；
2）作者投稿时务必将详细联系电话、通信地址等信息（见下表）附在论文后面；
联系人姓名 手机 电话/传真 职称/职务 稿件编号（有，请填写）
通讯地址 邮编
发票抬头 E-mail：
投稿方式
1）邮箱投稿：cimctc@vip.163.com；
2）登陆中国仪器与测量网（www.etmchina.com）点击“登陆会议投稿系统”选择“中国仪器仪表与测控技术大会（CIMCTC）”投稿；
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